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X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
更新日期：2024-05-14
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
X射線熒光測量儀 XDV ® -SDDFISCHERSCOPE ® X 射線 XDV ® -SDD使用硅漂移探測器（SDD）作為X射線探測器的高性能熒光X射線膜厚測量儀。使用電動(dòng)載物臺，可以測量非常薄的薄膜并進(jìn)行顯微分析。
X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
X射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
日本進(jìn)口fischerX射線熒光測量儀 XDV ® -SDD
特征
- X射線探測器采用硅漂移探測器（SDD）
- 配備可編程 XY 平臺
- 大且易于進(jìn)入的測量室（密閉室型）
主要規(guī)格
使用電動(dòng)載物臺，可以對極薄的薄膜進(jìn)行自動(dòng)測量和微量分析。
| 模型 | XDV-SDD |
|---|---|
| 測量元件范圍 | 鋁 (13) -U (92) |
| X射線探測器 | 硅漂移探測器 (SDD) |
| X射線管 | 微調(diào)焦管 |
| 初級過濾器 | 6種 |
| 準(zhǔn)直器數(shù)量/尺寸 | 4種/Φ0.1mm～Φ3mm |
| 車身尺寸 | 660 x 835 x 720mm（寬 x 深 x 高） |
| 能量消耗 | 高達(dá) 120W |
主要應(yīng)用
- 超薄膜和多層膜的檢測（電子/半導(dǎo)體行業(yè)等）
- 篩選分析（RoHS、玩具、包裝標(biāo)準(zhǔn)有毒物質(zhì)檢測等）
- NiP成分分析、厚度測量
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