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日本daiichi高精度低露點(diǎn)鏡面冷卻露點(diǎn)儀
更新日期：2024-05-11
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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址：
簡要描述：
日本daiichi高精度低露點(diǎn)鏡面冷卻露點(diǎn)儀Multi Frost常規(guī)鏡面冷卻露點(diǎn)儀中使用的珀耳帖冷卻元件還配備了斯特林發(fā)動(dòng)機(jī)（制冷機(jī)），可以將鏡面的基本溫度降低到接近-100°C。結(jié)果，反射鏡冷卻能力提高了25％，同時(shí)，設(shè)備的整體尺寸也減小了?；阽R面冷卻露點(diǎn)儀的原理，還采用了新的RRS光學(xué)系統(tǒng)（快速制冷系統(tǒng)）來提高光學(xué)系統(tǒng)的靈敏度。
日本daiichi高精度低露點(diǎn)鏡面冷卻露點(diǎn)儀Multi Frost
日本daiichi高精度低露點(diǎn)鏡面冷卻露點(diǎn)儀Multi Frost
高精度低露點(diǎn)鏡面冷卻露點(diǎn)儀Multi Frost
常規(guī)鏡面冷卻露點(diǎn)儀中使用的珀耳帖冷卻元件還配備了斯特林發(fā)動(dòng)機(jī)（制冷機(jī)），可以將鏡面的基本溫度降低到接近-100°C。結(jié)果，反射鏡冷卻能力提高了25％，同時(shí)，設(shè)備的整體尺寸也減小了。基于鏡面冷卻露點(diǎn)儀的原理，還采用了新的RRS光學(xué)系統(tǒng)（快速制冷系統(tǒng)）來提高光學(xué)系統(tǒng)的靈敏度。
裝有自動(dòng)調(diào)整光學(xué)系統(tǒng)的系統(tǒng)，以便跟蹤痕量水分區(qū)域水平的變化。Multi Frost使用技術(shù)來實(shí)現(xiàn)無壓力且準(zhǔn)確的水分測(cè)量。
多霜的高速響應(yīng)在
微量水分區(qū)域，測(cè)量系統(tǒng)和管道鏡面中所含殘余水分的影響很重要。為了追求高速響應(yīng)性，重要的是減少傳感部件的采樣氣體量，包括安裝斯特林發(fā)動(dòng)機(jī)。
Multi Frost旨在使其體積盡可能小，并且成功地使氣體接觸部分的面積盡可能小。
露點(diǎn)傳感器規(guī)格
| 測(cè)量精度 | ±0.1℃dp |
|---|---|
| 重現(xiàn)性 | ±0.05℃dp |
| 測(cè)量范圍 | MF80：-80至+ 20°C dp MF90：-90至+ 20°C dp |
| 鏡面材質(zhì) | 銅鍍金 |
| 溫度測(cè)量 | 4線PT100,1 / 10 DIN B級(jí) |
| 樣品流速 | 500-1000毫升/分鐘 |
| 樣氣壓力 | 1.0 MPa |
遠(yuǎn)程PET傳感器
| 溫度測(cè)量 | 4線PT100,1 / 10 DIN B級(jí) |
|---|---|
| 測(cè)量精度 | ±0.1℃ |
| 電纜長度 | 2m（250m） |
流量傳感器
| 測(cè)量范圍 | 0-1000毫升/英里 |
|---|
監(jiān)視器
| 顯示分辨率 | 0.0001℃dp（用戶可根據(jù)參數(shù)配置） |
|---|---|
| 測(cè)量原理 | 露點(diǎn)：℃dp，％RH，g / m3，g / kg，ppmv，ppmw 溫度：℃ |
| 輸出 | 模擬量：3ch（4-20mA，0-20mA，0-1V或更多可選設(shè)備） 數(shù)字量：USB，ModBusRTU（RS232,485），ModBusTCP，以太網(wǎng) 警報(bào)：2ch /無電壓C觸點(diǎn); 1A @ 30V DC |
| 人機(jī)界面 | 5.7英寸LCD觸摸屏（藍(lán)色） |
| 數(shù)據(jù)記錄 | USB接口 SD卡（FAT32）支持--32GB *最長可以記錄560天（每隔2秒記錄一次） |
| 環(huán)境條件 | 5-30°C，80％RH |
| 電源供應(yīng) | 85-264 VAC，47/63赫茲 |
| 能量消耗 | 250伏安 |
設(shè)備規(guī)格
| 重量 | 22.4公斤 |
|---|---|
| 樣氣連接 | 入口：1/4“ VCR（公） 出口：1/4” SWG（公） |
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